[发明专利]一种用于半导体存储器老化测试装置的测试平台有效
| 申请号： | 201811534722.X | 申请日： | 2018-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN109406916B | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 刘海 | 申请（专利权）人： | 武汉精鸿电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 赵伟 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市洪*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于半导体存储器老化测试装置的测试平台，包括界面工具，设置于上位机的、与界面工具之间具有交互的第一子平台，设置于下位机的、与第一子平台之间具有交互的第二子平台；界面工具作为人机交互接口，用于进行测试代码编辑和编译，供用户编辑测试项流程、输入测试控制指令、进行测试项调试；第一子平台根据从界面工具接收的指令对半导体存储器老化测试装置进行硬件设置；第二子平台根据加载的测试主程序以及在界面工具中编辑的测试项流程控制半导体存储器老化测试装置的测试核心板进行半导体存储器测试；该测试平台可充分发挥硬件装置的测试性能，兼顾了软件开发的可重用性，并提供了多种测试工具，可极大提高测试程序的调试验证效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 半导体 存储器 老化 测试 装置 平台 | ||
【主权项】：
1.一种用于半导体存储器老化测试装置的测试平台，其特征在于，包括界面工具，设置于上位机的、与界面工具之间通过内部通讯协议交互的第一子平台，以及设置于下位机的、与第一子平台之间通过TCP/IP通讯协议交互的第二子平台；所述界面工具作为人机交互接口，提供编辑编译工具以进行测试代码编辑和编译生成测试主程序；供用户编辑测试项流程、输入测试控制指令、进行测试项调试；所述第一子平台用于根据从界面工具接收的指令对半导体存储器老化测试装置进行硬件设置；所述第二子平台用于根据加载的测试主程序以及在界面工具中编辑的测试项流程控制半导体存储器老化测试装置的测试核心板对半导体存储器进行测试。
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