[发明专利]一种石墨烯表面清洁度的检测方法有效
| 申请号： | 201811536194.1 | 申请日： | 2018-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN109580650B | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 焦丽颖;王靖慧 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N21/94 | 分类号： | G01N21/94 |
| 代理公司： | 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) 11489 | 代理人： | 陈超 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种石墨烯表面清洁度的检测方法，包括如下步骤：以预设组装方式在石墨烯表面形成分子层，分子层包含探针分子，探针分子在石墨烯的表面实现自组装；将包括分子层的石墨烯按第一预设温度烘烤第一预设时间，以使探针分子的自组装规整度更高；获取石墨烯表面的探针分子自组装规整度的图像；将图像与探针分子自组装规整度标准图像进行比对，得到石墨烯的表面清洁度结果。本发明通过石墨烯表面对探针分子的吸附及组装调制作用，使用显微镜观察探针分子是否形成有序的组装体，以此作为判断石墨烯表面是否清洁的依据。此外，通过对石墨烯表面不同区域的观察，还可以得到大面积石墨烯表面清洁度的比例。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 石墨 表面 清洁 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种石墨烯表面清洁度的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：S100，以预设组装方式在石墨烯表面形成分子层，所述分子层包含探针分子，所述探针分子在所述石墨烯的表面实现自组装；S200，将包括所述分子层的所述石墨烯按第一预设温度烘烤第一预设时间，以使所述探针分子的自组装规整度更高；S300，获取所述石墨烯表面的所述探针分子自组装规整度的图像；S400，将所述图像与所述探针分子自组装规整度标准图像进行比对，得到所述石墨烯的表面清洁度结果。
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