[发明专利]一种利用偏振调制离焦强度检测拓扑荷的方法在审
| 申请号： | 201811536372.0 | 申请日： | 2018-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN109612592A | 公开（公告）日： | 2019-04-12 |
| 发明（设计）人： | 李艳秋;戴学兵;王叶;刘丽辉 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00;G01J4/00 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 李爱英;仇蕾安 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种利用偏振调制离焦强度检测拓扑荷的方法，待测涡旋光束首先经过偏振调制系统，经调制后的待测涡旋光束通过高数值孔径透镜聚焦到其焦点区域；焦点的光斑经过4‑f系统成像于CCD检测面；逐渐增大偏振调制系统的偏振阶数P，当待测涡旋光束的拓扑荷l与偏振调制系统上的偏振阶数P数值的绝对值相等时，CCD检测面上观测的光斑呈现最小实心形状，从而可知拓扑荷l的大小；观察CCD检测面上光斑的螺旋方向获取待测涡旋光束拓扑荷l的方向，本发明能够实现任意偏振涡旋光束的拓扑荷检测。 | ||
| 搜索关键词： | 拓扑 涡旋 偏振调制系统 光斑 偏振调制 强度检测 阶数 离焦 偏振 检测 高数值孔径透镜 偏振涡旋光束 光束通过 焦点区域 螺旋方向 系统成像 逐渐增大 检测面 调制 相等 观测 聚焦 焦点 观察 | ||
【主权项】：
1.一种利用偏振调制离焦强度检测拓扑荷的方法，其特征在于，其过程为：待测涡旋光束首先经过偏振调制系统，偏振调制系统的偏振矢量为：![]()
其中，![]()
和![]()
分别表示待测涡旋光束横截面上沿x轴和y轴方向的单位矢量，p为偏振阶数，r和φ分别表示光束横截面某点的径向和切向坐标；经调制后的待测涡旋光束通过高数值孔径透镜聚焦到其焦点区域；焦点的光斑经过4‑f系统成像于CCD检测面；逐渐增大偏振调制系统的偏振阶数P，当待测涡旋光束的拓扑荷l与偏振调制系统上的偏振阶数P数值的绝对值相等时，CCD检测面上观测的光斑呈现最小实心形状，从而可知拓扑荷l的大小；观察CCD检测面上光斑的螺旋方向获取待测涡旋光束拓扑荷l的方向。
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