[发明专利]一种垂直结构LED晶圆及剥离方法在审
申请号: | 201811539293.5 | 申请日: | 2018-12-17 |
公开(公告)号: | CN109545931A | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 杨振大;郑洪仿;黄经发 | 申请(专利权)人: | 佛山市国星半导体技术有限公司 |
主分类号: | H01L33/24 | 分类号: | H01L33/24;H01L33/00;H01L33/44;H01L33/46 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 胡枫 |
地址: | 528200 广东省佛山市南海区狮*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种垂直结构LED晶圆,包括蓝宝石衬底;设置在蓝宝石衬底上的发光结构,所述发光结构还包括沟道槽,所述沟道槽刻蚀至第一半导体层,其宽度为10‑100μm;设置在沟道槽侧壁上的绝缘层;设置在沟道槽内的第一金属层,所述第一金属层与第一半导体层连接;设置在第一金属层上的第二金属层;设置在第二金属层和电流扩展层上的第三金属层;设置在硅衬底上的焊料层,其中,所述焊料层与第三金属层共晶形成一整体,以将硅衬底连接在发光结构上。相应地,本发明还提供了一种剥离方法。本发明的垂直结构LED晶圆,通过沟道槽、第一金属层、第二金属层的相互配合,以提高剥离衬底的良率,降低生产成本。 | ||
搜索关键词: | 沟道槽 第一金属层 垂直结构LED 第二金属层 发光结构 晶圆 蓝宝石 半导体层 硅衬底 焊料层 金属层 衬底 绝缘层 剥离 电流扩展层 剥离衬 侧壁 共晶 刻蚀 良率 配合 | ||
【主权项】:
1.一种垂直结构LED晶圆,其特征在于,包括:蓝宝石衬底;设置在蓝宝石衬底上的发光结构,所述发光结构包括依次设置在蓝宝石衬底上的缓冲层、第一半导体层、有源层、第二半导体层和电流扩展层,所述发光结构还包括沟道槽,所述沟道槽刻蚀至第一半导体层,其宽度为10‑100μm;设置在沟道槽侧壁上的绝缘层;设置在沟道槽内的第一金属层,所述第一金属层与第一半导体层连接;设置在第一金属层上的第二金属层;设置在第二金属层和电流扩展层上的第三金属层;设置在硅衬底上的焊料层,其中,所述焊料层与第三金属层共晶形成一整体,以将硅衬底连接在发光结构上。
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