[发明专利]一种超透滤膜批量检测装置采样装置在审

专利信息
申请号: 201811539871.5 申请日: 2018-12-17
公开(公告)号: CN109709014A 公开(公告)日: 2019-05-03
发明(设计)人: 张庆;陈传云;李胜明;梁远争;李爱珍;王志强 申请(专利权)人: 合肥信达膜科技有限公司
主分类号: G01N15/08 分类号: G01N15/08
代理公司: 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 代理人: 张明利
地址: 230001 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开一种超透滤膜批量检测装置采样装置,包括底架,其特征在于,所述底架之间设有横支架,上下横支架之间通过阵列分布的气缸组件连接,横支架之间设有阵列分布的半环夹具,上下横支架之间设有阵列分布的超透滤膜,横支架一侧设有阵列分布的卡孔,横支架一端设有贯穿横支架的方形卡孔,气缸组件一侧设卡条,卡条固定在上排的横支架上设有的方形卡孔内,气缸组件下端设有固定盘,固定盘下端设有气缸,气缸内设有活塞杆,半环夹具两端设有镜像分布的卡耳,卡耳上设第一定位孔,半环夹具通过螺钉贯穿第一定位孔连接,半环夹具之间设有超透滤膜。本发明方便超透滤膜的采样,提高采样效率,并且无需将超透滤膜用于使用超透滤膜的设备,实用性高。
搜索关键词: 横支架 透滤 阵列分布 半环 夹具 气缸组件 批量检测装置 采样装置 方形卡孔 定位孔 固定盘 底架 气缸 下端 采样效率 夹具两端 螺钉 活塞杆 贯穿 采样 卡耳 卡条
【主权项】:
1.一种超透滤膜批量检测装置采样装置,包括底架(1),其特征在于,所述底架(1)之间设有阵列分布的横支架(2),横支架(2)上同样设有阵列分布的横支架(2),上下横支架(2)之间通过阵列分布的气缸组件(3)连接,横支架(2)之间设有阵列分布的半环夹具(4),上下横支架(2)之间设有阵列分布的超透滤膜(5)。
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