[发明专利]确定高精度定位原始芯片轴向的测试方法和测试装置有效
申请号: | 201811540827.6 | 申请日: | 2018-12-14 |
公开(公告)号: | CN111323046B | 公开(公告)日: | 2022-04-26 |
发明(设计)人: | 李颖晶;夏冬旭 | 申请(专利权)人: | 千寻位置网络有限公司 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 赵秀芹 |
地址: | 200433 上海市杨浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种确定高精度定位原始芯片轴向的测试方法和测试装置,所述测试方法包括两种:1、利用加速度计判别,只需要水平平放芯片模块,观察哪个轴输出数据接近9.8或‑9.8,然后再沿任意一个轴转90度,观察轴输出数据接近9.8或‑9.8,确定第二个轴向,则第三个轴向也确定了,至此完成轴向判别了。2、利用陀螺仪判别,只需要将芯片按多个轴正反翻转360°,观察工具中输出的积分数值接近360°,就能完成轴向判别了。通过本发明的的测试方法及工具,即可快速完成传感器器件轴向和数据的判别。 | ||
搜索关键词: | 确定 高精度 定位 原始 芯片 轴向 测试 方法 装置 | ||
【主权项】:
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