[发明专利]微波方式物质金属结构相变高压原位测量装置及测量方法有效
申请号: | 201811545952.6 | 申请日: | 2018-12-18 |
公开(公告)号: | CN109580662B | 公开(公告)日: | 2021-05-28 |
发明(设计)人: | 张涛;李陈孝;王沛霖;孙百爽 | 申请(专利权)人: | 吉林大学 |
主分类号: | G01N22/00 | 分类号: | G01N22/00 |
代理公司: | 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 | 代理人: | 王淑秋 |
地址: | 130012 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本发明涉及一种微波方式物质金属结构相变高压原位测量装置及测量方法,该装置的上、下金刚石对顶砧表面分别制备有发射天线层和接收天线层;微波源产生的微波信号通过发射天线层内的发射天线向空间传播;被测样品放置于金刚石对顶砧单元的样品腔内;参数测量装置的双路信号线分别与发射天线及接收天线层内的接收天线相连接,运算输出单元通过数据线与参数测量装置相连。运算输出单元对参数测量装置双路探测得到的微波反射功率和透射功率进行运算处理,得到被测样品的金属结构相变程度,并以此确定被测样品的金属结构高压相变点。本发明测量精度高,稳定性好。 | ||
搜索关键词: | 微波 方式 物质 金属结构 相变 高压 原位 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种微波方式物质金属结构相变高压原位测量装置,其特征在于包括微波源(1)、传输线单元(2)、参数测量装置(5)、金刚石对顶砧单元(6)、运算输出单元(7);所述的金刚石对顶砧单元(6)包括上金刚石对顶砧(i)和下金刚石对顶砧(l),上金刚石对顶砧(i)表面制备有发射天线层(j),发射天线层(j)的表面制备有发射天线保护层(k);下金刚石对顶砧(l)表面制备有接收天线层(m);接收天线层(m)的表面制备有接收天线保护层(n);微波源(1)与传输线单元(2)相连接,产生的微波信号经传输线单元(2)传输到发射天线层(j)内的发射天线(3),通过发射天线(3)向空间传播;被测样品放置于金刚石对顶砧单元(6)砧面的样品腔内;参数测量装置(5)的双路信号线分别与发射天线(3)及接收天线层(m)内的接收天线(4)相连接,运算输出单元(7)通过数据线与参数测量装置(5)相连,对微波反射功率Pr和透射功率Pt进行运算处理得到被测样品的金属结构相变程度M(P)。
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