[发明专利]一种宇航用锂电池管理芯片可靠性验证方法在审
| 申请号： | 201811547730.8 | 申请日： | 2018-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN109633467A | 公开（公告）日： | 2019-04-16 |
| 发明（设计）人： | 刘伟鑫;汪波 | 申请（专利权）人： | 上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所 |
| 主分类号： | G01R31/385 | 分类号： | G01R31/385 |
| 代理公司： | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人： | 余岢 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明一种宇航用锂电池管理芯片可靠性验证方法，步骤如下：步骤一、设计评价指标体系，对宇航用锂电池管理芯片可靠性关键参数进行分析；步骤二、根据评价指标体系设计评价验证试验项目；步骤三、开展结构分析工作；步骤四、开展电特性一致性分析；步骤五、开展极限性能评估；步骤六、开展抗辐射性能评估；步骤七、开展电特性适应性验证；步骤八、开展力学环境和热学环境适应性验证。本发明为获取元器件的应用特性数据，并降低锂离子蓄电池管理芯片在航天器应用电路内的风险，可有效对宇航用锂电池管理芯片开展相关可靠性验证，以评估其宇航应用适应性。 | ||
| 搜索关键词： | 管理芯片 锂电池 可靠性验证 宇航 评价指标体系 性能评估 验证 电特性一致性 锂离子蓄电池 环境适应性 关键参数 结构分析 力学环境 验证试验 应用电路 应用特性 宇航应用 电特性 抗辐射 航天器 热学 元器件 分析 评估 | ||
【主权项】：
1.一种宇航用锂电池管理芯片可靠性验证方法，其特征在于，步骤如下：步骤一、设计评价指标体系，对宇航用锂电池管理芯片可靠性关键参数进行分析；步骤二、根据评价指标体系设计评价验证试验项目；步骤三、开展结构分析工作；步骤四、开展电特性一致性分析；步骤五、开展极限性能评估；步骤六、开展抗辐射性能评估；步骤七、开展电特性适应性验证；步骤八、开展力学环境和热学环境适应性验证。
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