[发明专利]中性原子成像单元、成像仪、成像方法及空间探测系统有效

专利信息
申请号: 201811548420.8 申请日: 2018-12-18
公开(公告)号: CN109613594B 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: 宗秋刚;王玲华;邹鸿;王永福;陈鸿飞;施伟红;于向前;周率 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: G01T1/24 分类号: G01T1/24
代理公司: 北京汉之知识产权代理事务所(普通合伙) 11479 代理人: 陈敏
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种中性原子成像单元、成像仪、成像方法及空间探测系统,中性原子成像单元包括至少一组探测单元,至少一组探测单元包括:至少一个半导体探测器线阵列;以及设置在至少一个所述半导体探测器线阵列的前方并且与至少一个所述半导体探测器线阵列一一对应设置的至少一个调制栅格,调制栅格对入射的中性原子进行傅里叶变换;半导体探测器线阵列的方向与所述调制栅格的狭缝方向一致。本发明首次将栅格成像技术应用于中性原子探测及成像领域,大大提高了中性原子的成像效率,缩短了成像所需的时间,提高了中性原子成像探测的计数率。本发明的中性原子成像方法,不会受到空间极紫外/紫外辐射的影响,获得更好的成像效果。
搜索关键词: 中性 原子 成像 单元 方法 空间 探测 系统
【主权项】:
1.一种中性原子成像单元,其特征在于,包括至少一组探测单元,至少一组探测单元包括:至少一个半导体探测器线阵列;以及至少一个调制栅格,设置在至少一个所述半导体探测器线阵列的前方并且与至少一个所述半导体探测器线阵列一一对应设置,所述调制栅格对入射的中性原子进行傅里叶变换;其中,所述半导体探测器线阵列的方向与所述调制栅格的狭缝方向一致。
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