[发明专利]一种位置全闭环的多轴同步测控方法

摘要

本发明公开了一种位置全闭环的多轴同步测控方法，PC发出控制指令通过运动控制器解析处理后传输给多个伺服驱动器，驱动器控制电机运动从而控制工作台运动，位置检测/同步装置接收各个轴上光栅尺信号，并产生触发信号给位移传感器，采集当前位置的零件表面高度数据；通过位置检测/同步装置同时采集多路光栅尺的位置信息，以当前运动最快轴的光栅尺反馈信号作为同步基准信号，触发位移传感器工作，以达到同步被测零件的高度信号与在工作台上的位置信号一致。本发明以光栅尺为工作台的实时位置测量工具，位移传感器为表面高度测量工具，具有测量精度高的优点。其它具有该功能的检测装置亦适用本方法。

主权项

1.一种位置全闭环的多轴同步测控方法，其特征在于：包括如下步骤：S1：构建多轴测控系统，包括数个伺服驱动器及伺服电机控制测控平台运动，多轴测控平台每个轴上安装光栅尺，Z轴上装有位移传感器，位移传感器接收到位置检测/同步装置的触发信号时时采集零件当前位置的表面高度数据；S2：测控平台运动，PC发出控制指令通过运动控制器解析处理后传输给多个伺服驱动器，控制伺服电机从而控制测控平台运动；S3：位置检测/同步装置同时采集多路光栅尺的位置信息，计算得到当前多个工作轴中运动最快的轴作为同步基准信号；S4：根据采样周期对同步基准信号进行N倍分频，用于设定数据采集的密度，N越大，数据密度越低；N满足公式：T_i＝min{T_x，T_y，T_z，...，T_n}其中，Ts为采样周期，Ti为同步基准信号周期，Tx，Ty，Tz，...，Tn分别为各光栅尺反馈的位置信号周期；S5：位置检测/同步装置选择的最快轴的光栅尺脉冲信号经N倍分频后作为触发脉冲，触发位移传感器采集表面高度数据；从而保证光栅尺的位置数据与位移传感器的表面高度数据的同步采集。