[发明专利]检测系统及方法在审
| 申请号： | 201811548588.9 | 申请日： | 2018-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN111336911A | 公开（公告）日： | 2020-06-26 |
| 发明（设计）人： | 吴佳政 | 申请（专利权）人： | 中强光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/16 | 分类号： | G01B7/16 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 蔡洪贵 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种检测系统及检测方法，用于检测电容式触控装置的触控面的变形程度。检测系统包括变形检测组件及电子计算器。变形检测组件包括两导电支撑件、导电基准件及变形程度量测件，导电基准件设于导电支撑件上且具有直边，变形程度量测件包括导电座及多个电性导体层，导电座具有量测面及底面，底面与量测面之间形成锐角，电性导体层依序排列在量测面上且具有不同的电性阻抗值。当变形程度量测件插设在直边、导电支撑件及触控面之间且导电座、电性导体层与直边电性导通时，电容式触控装置产生变形程度讯号。电子计算器接收变形程度讯号并产生变形程度资料。本发明的检测系统和方法降低检测变形程度所耗费的成本且其所使用的检测工具具有良好便携性。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
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