[发明专利]一种LCD缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201811555101.X | 申请日： | 2018-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN109727233B | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | 马新伍;罗巍巍;张胜森;郑增强 | 申请（专利权）人： | 武汉精立电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/136;G02F1/13 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 李佑宏 |
| 地址： | 430070 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种LCD缺陷检测方法，其通过对采集的原始图像进行图像增强后得到第一增强图像；对第一增强图像进行纹理滤除和标准均值转换得到标准化灰阶图像；计算标准化灰阶图像滑动矩形框内的灰度范围得到灰度差图像，对灰度差图像进行图像增强得到第二增强图像；计算第二增强图像的灰度直方图，并利用灰度直方图计算分割阈值，依据分割阈值判别第二增强图像的缺陷并进行标记，从而检测出原始图像的缺陷及缺陷类别，实现LCD面板的点、线和mura缺陷的同步和快速检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 lcd 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种LCD缺陷检测方法，其特征在于，具体步骤为：S1.对采集的原始图像进行图像增强后得到第一增强图像；S2.对第一增强图像进行纹理滤除和标准均值转换得到标准化灰阶图像；S3.计算标准化灰阶图像滑动矩形框内的灰度范围得到灰度差图像，对灰度差图像进行图像增强得到第二增强图像；S4.计算第二增强图像的灰度直方图，并利用灰度直方图计算分割阈值，依据分割阈值判别第二增强图像的缺陷并进行标记，从而检测出原始图像的缺陷及缺陷类别。
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