[发明专利]利用光纤法珀气体折射率和温度传感系统实现的测量方法有效

专利信息
申请号: 201811556114.9 申请日: 2018-12-19
公开(公告)号: CN109580546B 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 王双;江俊峰;刘铁根;王雪;刘琨;张鹏;吴雯 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45;G01K11/32;G01D5/353
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 李素兰
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种光纤法珀气体折射率和温度传感器及系统、测量方法,包括光纤法珀气体折射率和温度传感器(18)及其构成的测量系统;所述SLD光源(16)发出的光经过环形器(17)进入光纤法珀气体折射率和温度传感器(18),传感器(18)三个反射面反射的光形成干涉,反射信号经过环形器(17)被光谱仪(19)接收,计算机(20)记录反射回的干涉光谱信号并进行计算处理;所述恒温箱(22)控制压力舱里的温度扫描变化;空气压力舱(21)中的压力通过压力控制系统控制压力的变化,使得舱内压力进行变化扫描,实现温度、气体折射率的同时测量,且实现了温度补偿。与现有技术相比,本发明实现高精度测量,具有结构性能稳定,成本低、可批量加工等优势。
搜索关键词: 利用 光纤 气体 折射率 温度 传感 系统 实现 测量方法
【主权项】:
1.一种光纤法珀气体折射率和温度传感器,其特征在于,包括单模光纤(5)、光纤插芯(4)和传感头芯片,单模光纤(5)固定在光纤插芯(4)中,光纤插芯(4)与传感头芯片连接在一起,单模光纤(5)的端面与单晶硅片(1)下表面紧贴,起到光传输作用;其中:传感头芯片采用三层结构,第一层的双面抛光单晶硅片(1)、第二层的Pyrex玻璃片(2)和第三层的单面抛光单晶硅片(3);所述双面抛光单晶硅片(1)的下表面和上表面作为两个反射面即第一反射面(8)、第二反射面(9),构成作为温度敏感元件的第一法珀腔FP1,腔长为单晶硅片(1)的厚度;所述Pyrex玻璃片(2)中心设置圆形通孔(6),使得光束直接穿过Pyrex玻璃片(2),圆形通孔(6)侧面设置矩形通槽(7),使得光束穿过圆形通孔(6)的中线;所述单面抛光单晶硅片(3)的下表面和所述双面抛光单晶硅片(1)的上表面作为两个反射面即第二反射面(9)、第三反射面(10),构成作为气体折射率敏感元件的第二法珀腔FP2,腔长为Pyrex玻璃片(2)的厚度。
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