[发明专利]X射线衍射数据分析系统有效

专利信息
申请号: 201811563260.4 申请日: 2018-12-20
公开(公告)号: CN109725013B 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 王炎;刘雪涛;张万超;雷焱森;刘阳;温书豪;马健;赖力鹏 申请(专利权)人: 深圳晶泰科技有限公司
主分类号: G01N23/2005 分类号: G01N23/2005;G01N23/20058
代理公司: 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 代理人: 胡玉
地址: 518000 广东省深圳市福田*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明属于晶体结构的分析领域,具体涉及一种X射线衍射数据分析系统,包括格式转换模块、数据处理模块、数据分析模块、批处理模块、计算服务模块、资源统计服务模块、用户认证模块。本发明提供的X射线衍射数据分析系统,可以批量进行数据处理,结合人工智能技术,增强数据采集能力,是一种更高效的指标化方法,丰富的可视化分析,能有效的降低人工成本。
搜索关键词: 射线 衍射 数据 分析 系统
【主权项】:
1.X射线衍射数据分析系统,其特征在于,包括如下模块:格式转换模块,基于数据来源的多样式,提供多种原始数据的数据格式转换,包含如下两种类型的数据:分子或晶体结构数据,粉末衍射数据或峰数据;数据处理模块,用于对粉末衍射数据进行去噪、去本底减背景及数据识别;数据分析模块,用于对粉末衍射数据进行分析;批处理模块,用于编辑工作流、运行工作流;计算服务模块,利用各种算法库封装的计算单元,这些计算单元被打包发布为 Docker 镜像,通过任务调度系统传参调用;资源统计服务模块,提供精确到任务级的计算资源消耗统计,为成本控制提供有效依据;用户认证模块,对用户信息进行认证。
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