[发明专利]疵点识别设备在审
申请号: | 201811563465.2 | 申请日: | 2018-12-20 |
公开(公告)号: | CN109580645A | 公开(公告)日: | 2019-04-05 |
发明(设计)人: | 金玲玲;饶东升;何文玮 | 申请(专利权)人: | 深圳灵图慧视科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请公开了疵点识别设备,包括:第一成像装置,用于采集被测产品位于检测区域内的全局图像;第二成像装置,用于根据全局图像所包含的被测产品的疵点位置信息采集包含疵点的局部图像;以及图像识别装置,用于接收与所述全局图像对应的第一数据和与所述局部图像对应的第二数据并对所述第一数据和所述第二数据进行疵点识别处理。本申请的实施例的方案先对被测产品的全局图像进行识别,在确定存在表面疵点时,再对被测产品的局部图像进行识别,有效提高了行进中的长产品的表面疵点识别速度。 | ||
搜索关键词: | 被测产品 全局图像 疵点识别 局部图像 表面疵点 成像装置 第一数据 疵点 图像识别装置 疵点位置 检测区域 信息采集 长产品 申请 行进 采集 | ||
【主权项】:
1.疵点识别设备,包括:第一成像装置,用于采集被测产品位于检测区域内的全局图像;第二成像装置,用于根据全局图像所包含的被测产品的疵点位置信息采集包含疵点的局部图像;以及图像识别装置,用于接收与所述全局图像对应的第一数据和与所述局部图像对应的第二数据并对所述第一数据和所述第二数据进行疵点识别处理。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳灵图慧视科技有限公司,未经深圳灵图慧视科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811563465.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。