[发明专利]用于测量输入设备的相位基线估计的方法和系统在审
| 申请号： | 201811569870.5 | 申请日： | 2018-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN110058720A | 公开（公告）日： | 2019-07-26 |
| 发明（设计）人： | P.谢佩列夫;E.博汉农 | 申请（专利权）人： | 辛纳普蒂克斯公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 李湘;闫小龙 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 输入设备可以包括限定各种传感器像素的各种传感器电极。输入设备还可以包括耦合到传感器电极的处理系统。处理系统可以从传感器电极获得第一所产生信号和第二所产生信号。处理系统可使用第一所产生信号来确定传感器像素中的一传感器像素处的相位延迟的同相估计。处理系统可以使用第二所产生信号来确定传感器像素处的相位延迟的正交估计。处理系统可以至少部分地基于同相估计和正交估计来确定传感器像素的相位基线估计。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器像素 处理系统 产生信号 传感器电极 基线估计 输入设备 相位延迟 正交 系统输入设备 耦合到 测量 | ||
【主权项】：
1.一种输入设备，包括：限定多个传感器像素的多个传感器电极；以及处理系统，其耦合到所述多个传感器电极，所述处理系统配置成：从所述多个传感器电极获得第一所产生信号和第二所产生信号，使用所述第一所产生信号确定所述多个传感器像素中的一传感器像素处的相位延迟的第一同相估计，使用所述第二所产生信号确定所述传感器像素处的所述相位延迟的第一正交估计，以及至少部分地基于所述第一同相估计和所述第一正交估计来确定所述多个传感器像素的相位基线估计。
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