[发明专利]电子元器件灌封胶贮存环境损伤机理分析方法在审
| 申请号： | 201811570559.2 | 申请日： | 2018-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN109470793A | 公开（公告）日： | 2019-03-15 |
| 发明（设计）人： | 魏小琴;王艳艳;赵方超;张世艳;张凯;李泽华 | 申请（专利权）人： | 中国兵器工业第五九研究所 |
| 主分类号： | G01N30/02 | 分类号： | G01N30/02;G01N21/29;G01N23/2273;G01N21/3563 |
| 代理公司： | 重庆弘旭专利代理有限责任公司 50209 | 代理人： | 韦永华 |
| 地址： | 400039 重*** | 国省代码： | 重庆;50 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料技术领域，具体涉及一种电子元器件灌封胶贮存环境损伤机理分析方法。所述电子元器件灌封胶贮存环境损伤机理分析方法，包括以下步骤：A.将电子元部件样品在自然环境条件下开展多年贮存试验；B.贮存试验结束后，分别检测电子元部件表面和内部灌封胶的分子结构、色差、元素相对原子含量、化学官能团；C.将电子元部件灌封胶表面和内层的分子结构、色差、元素相对原子含量、化学官能团分别进行对比分析。采用本发明的方法来分析电子元器件灌封胶贮存环境下的损伤机理，具有真实性好、准确度高等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 灌封胶 电子元器件 电子元部件 贮存 环境损伤 机理分析 色差 化学官能团 分子结构 贮存试验 自然环境条件 对比分析 分析材料 物理性质 准确度 内层 真实性 损伤 测试 检测 分析 | ||
【主权项】：
1.电子元器件灌封胶贮存环境损伤机理分析方法，其特征在于，包括以下步骤：A.将电子元部件样品在自然环境条件下开展多年贮存试验；B.贮存试验结束后，分别检测电子元部件表面和内部灌封胶的分子结构、色差、元素相对原子含量、化学官能团；C.将电子元部件灌封胶表面和内层的分子结构、色差、元素相对原子含量、化学官能团分别进行对比分析。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国兵器工业第五九研究所，未经中国兵器工业第五九研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811570559.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
