[发明专利]漫反射光谱测量装置及测量方法在审
| 申请号： | 201811570628.X | 申请日： | 2018-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN109444082A | 公开（公告）日： | 2019-03-08 |
| 发明（设计）人： | 李晨曦;徐可欣;李胜;赵丕成;汤海涛 | 申请（专利权）人： | 天津九光科技发展有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47;G01N21/01 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 李坤 |
| 地址： | 300384 天津市西青区*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 一种漫反射光谱测量装置及测量方法，包括：测量台，用于放置待测样品，其台面包含有孔径可调节的测量口；准直出射光源组，置于所述测量台内，用于发出空间准直并且均匀分布的平行光，所述平行光经通过测量口后照射待测样品；起偏器，设置于所述准直出射光源与待测样品之间，用于入射光偏振态改变；漫反射收集透镜组，其工作角度可调，焦距可调，包含有双透镜，用于收集待测样品被准直出射光源发出的平行光照射后形成的漫反射光；检偏器，设置于待测样品与所述漫反射收集透镜组之间，用于检测待测样品的漫反射光的偏振态；以及光纤，用于将所述漫反射收集透镜组收集到的漫反射光耦合并导入光谱分析仪器，完成待测样品的漫反射光谱的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 待测样品 准直 漫反射光谱 漫反射光 收集透镜 漫反射 平行光 出射 测量装置 测量 测量口 测量台 光源 照射 光谱分析仪器 入射光偏振态 焦距可调 角度可调 光源组 检偏器 可调节 偏振态 起偏器 双透镜 组收集 台面 光纤 合并 检测 | ||
【主权项】：
1.一种漫反射光谱测量装置，包括：测量台，用于放置待测样品，其台面包含有孔径可调节的测量口；准直出射光源组，置于所述测量台内，用于发出空间准直并且均匀分布的平行光，所述平行光经通过测量口后照射待测样品；起偏器，设置于所述准直出射光源与待测样品之间，用于入射光偏振态改变；漫反射收集透镜组，其工作角度可调，焦距可调，包含有双透镜，用于收集待测样品被准直出射光源发出的平行光照射后形成的漫反射光；检偏器，设置于待测样品与所述漫反射收集透镜组之间，用于检测待测样品的漫反射光的偏振态；以及光纤，用于将所述漫反射收集透镜组收集到的漫反射光耦合并导入光谱分析仪器。
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