[发明专利]单晶硅炉用炭炭导流筒修复腐蚀层的工艺方法有效
申请号: | 201811574130.0 | 申请日: | 2018-12-21 |
公开(公告)号: | CN109338458B | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 王金铎;啜艳明;郭宾;胡士伟;周倩 | 申请(专利权)人: | 保定顺天新材料股份有限公司 |
主分类号: | C30B15/00 | 分类号: | C30B15/00;C30B29/06;C23C16/26 |
代理公司: | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人: | 刘敏 |
地址: | 074100 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明公开了一种单晶硅炉用炭炭导流筒修复腐蚀层的工艺方法,包括以下步骤:S1、将被腐蚀的导流筒放入高温炉中,进行高温处理;S2、使用刀具处理导流筒的外表面,对导流筒的外表面进行切削,保证其外表面平整;S3、将步骤S2切削后的导流筒再次放置在化学气相沉积炉中进行高温处理,其中化学气相沉积炉的温度为1060‑1070℃,保温40‑50小时,碳源性气体的滞留时间不超过20秒。本发明采用上述单晶硅炉用炭炭导流筒修复腐蚀层的工艺方法,操作方法简单,可以提高导流筒整体使用寿命。 | ||
搜索关键词: | 单晶硅 炉用炭炭 导流 修复 腐蚀 工艺 方法 | ||
【主权项】:
1.一种单晶硅炉用炭炭导流筒修复腐蚀层的工艺方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、将被腐蚀的导流筒放入高温炉中,进行高温处理;S2、使用刀具处理导流筒的外表面,对导流筒的外表面进行切削,保证其外表面平整;S3、将步骤S2切削后的导流筒再次放置在化学气相沉积炉中进行高温处理,其中化学气相沉积炉的温度为1060‑1070℃,保温40‑50小时,碳源性气体的滞留时间不超过20秒。
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