[发明专利]单晶硅炉用炭炭导流筒修复腐蚀层的工艺方法有效

专利信息
申请号: 201811574130.0 申请日: 2018-12-21
公开(公告)号: CN109338458B 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 王金铎;啜艳明;郭宾;胡士伟;周倩 申请(专利权)人: 保定顺天新材料股份有限公司
主分类号: C30B15/00 分类号: C30B15/00;C30B29/06;C23C16/26
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 代理人: 刘敏
地址: 074100 河*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明公开了一种单晶硅炉用炭炭导流筒修复腐蚀层的工艺方法,包括以下步骤:S1、将被腐蚀的导流筒放入高温炉中,进行高温处理;S2、使用刀具处理导流筒的外表面,对导流筒的外表面进行切削,保证其外表面平整;S3、将步骤S2切削后的导流筒再次放置在化学气相沉积炉中进行高温处理,其中化学气相沉积炉的温度为1060‑1070℃,保温40‑50小时,碳源性气体的滞留时间不超过20秒。本发明采用上述单晶硅炉用炭炭导流筒修复腐蚀层的工艺方法,操作方法简单,可以提高导流筒整体使用寿命。
搜索关键词: 单晶硅 炉用炭炭 导流 修复 腐蚀 工艺 方法
【主权项】:
1.一种单晶硅炉用炭炭导流筒修复腐蚀层的工艺方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、将被腐蚀的导流筒放入高温炉中,进行高温处理;S2、使用刀具处理导流筒的外表面,对导流筒的外表面进行切削,保证其外表面平整;S3、将步骤S2切削后的导流筒再次放置在化学气相沉积炉中进行高温处理,其中化学气相沉积炉的温度为1060‑1070℃,保温40‑50小时,碳源性气体的滞留时间不超过20秒。
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