[发明专利]一种光学测量点云的密封面误差评估缺陷识别方法有效
| 申请号： | 201811574410.1 | 申请日： | 2018-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN111426282B | 公开（公告）日： | 2022-04-19 |
| 发明（设计）人： | 李莉;郝庆军;李文龙;崔建新;帅三娥;张高剑 | 申请（专利权）人： | 核动力运行研究所;中核武汉核电运行技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G06T7/00 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 李东斌 |
| 地址： | 430223 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及密封面测量缺陷识别技术领域，具体公开了一种光学测量点云的密封面误差评估缺陷识别方法。该方法包括：1、采集主泵法兰密封面点云数据；2、对点云数据进行预处理；5、根据主泵法兰密封面的点云数据，进行缺陷识别；5.1、建立误差色谱图；5.2、利用误差色谱的颜色变换梯度，获得梯度变换超过阈值的像素点所围城的封闭区域，实现对密封面缺陷的自动识别。该方法克服来现有测量方法无法实现原位、高精度、高效率自动化测量的缺陷；同时，基于测量原始点云数据自动评估零件2D尺寸误差、圆度/平面度误差，识别表面缺陷，简化了数据处理和误差评估的过程，提升了效率和精度，克服来传统方法获取深度信息困难的缺点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 测量 密封 误差 评估 缺陷 识别 方法 | ||
【主权项】：
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