[发明专利]基于二维刻度尺的离轴圆条纹投影测量零相位点求解方法有效
| 申请号： | 201811575115.8 | 申请日： | 2018-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN109489586B | 公开（公告）日： | 2020-04-10 |
| 发明（设计）人： | 张春伟;赵宏;张振洋;乔嘉成 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人： | 贺建斌 |
| 地址： | 710049 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 基于二维刻度尺的离轴圆条纹投影测量零相位点求解方法，先搭建离轴圆条纹投影测量系统，设计一种二维刻度尺；再生成一幅十字线图像，借助测量系统的投影单元对十字线图像投影，投影到二维刻度尺上，记录十字线图像中心在二维刻度尺上的十字线中心物理坐标和十字线中心像素坐标；然后借助测量系统的成像单元对二维刻度尺成像，选定成像点，记录成像点像素坐标及在二维刻度尺上的成像点物理坐标；最后由十字线中心物理坐标、成像点像素坐标、成像点物理坐标以及离轴圆条纹投影测量系统参数，建立方程，求解得到离轴圆条纹投影测量系统测量时采样圆条纹图的零相位点像素坐标；本发明有助于提高圆条纹投影轮廓术的三维测量性能。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 二维 刻度尺 离轴圆 条纹 投影 测量 相位 求解 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于二维刻度尺的离轴圆条纹投影测量零相位点求解方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：搭建离轴圆条纹投影测量系统，实现离轴圆条纹投影测量系统相对位姿的精确调整；步骤2：设计一种二维刻度尺，并且按照测量要求完成对其有效布置；步骤3：通过软件编码生成一幅十字线图像，借助离轴圆条纹投影测量系统中的投影单元实现对所生成十字线图像投影，投影到二维刻度尺上，记录十字线图像中心在二维刻度尺上的物理坐标；步骤4：借助离轴圆条纹投影测量系统中的成像单元对二维刻度尺成像，选定一个成像点，记录成像点像素坐标及在二维刻度尺上的成像点物理坐标；步骤5：由十字线中心物理坐标、成像点像素坐标、成像点物理坐标以及离轴圆条纹投影测量系统参数，建立方程，求解得到离轴圆条纹投影测量系统测量时采样圆条纹图的零相位点像素坐标。
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