[发明专利]半导体制造装置和半导体装置的成膜方法在审

专利信息
申请号: 201811575206.1 申请日: 2018-12-21
公开(公告)号: CN110079771A 公开(公告)日: 2019-08-02
发明(设计)人: 多田宽明 申请(专利权)人: 艾普凌科有限公司
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;C23C14/56;H01L21/67
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 王岳;闫小龙
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及半导体制造装置和半导体装置的成膜方法。在使用主夹具(23a)和辅助夹具(23b)按住基板(100)的表面外周部来形成堆积膜(101)之后,利用在使用弹簧构件(25)将辅助夹具与工作台(21)之间连接的状态下工作台(21)下降时产生的弹簧构件(25)的收缩力,由此,将主夹具(23a)与基板(100)拉开。
搜索关键词: 半导体制造装置 半导体装置 弹簧构件 辅助夹具 主夹具 成膜 基板 下工作台 收缩力 外周部 工作台 堆积
【主权项】:
1.一种半导体制造装置,其特征在于,具备:工作台,从背面支承基板;主夹具,与所述基板的表面外周部的按压面的内侧的区域相接;辅助夹具,在所述按压面的外侧的区域与所述基板相接;以及弹簧构件,将所述辅助夹具与所述工作台连结。
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