[发明专利]一种QCM晶片的表面修饰方法有效

专利信息
申请号: 201811579175.7 申请日: 2018-12-21
公开(公告)号: CN109557297B 公开(公告)日: 2021-11-16
发明(设计)人: 陈刚;邵彪;李子寅;王彦军 申请(专利权)人: 南通市产品质量监督检验所
主分类号: G01N33/53 分类号: G01N33/53;G01N5/00
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 谈杰
地址: 226000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种QCM晶片的表面修饰方法,将表面镀金的QCM晶片用3‑巯基丙酸乙酯的乙醇溶液浸润,使用乙醇清洗表面并自然风干;用带有活性酯基团的光活性聚合物溶液浸润处理后的QCM晶片,使用条形或网格形掩膜覆盖晶片表面,在紫外光诱导下聚合物与晶片表面发生键合,形成阵列结构;使用无水乙醇和去离子水先后清洗晶片表面,除去未反应键合的聚合物;使用含有为抗体的缓冲溶液浸泡晶片,使用去离子水清洗晶片,并将晶片保存于缓冲溶液中备用。本发明的优点在于:通过光诱导枝接技术在QCM晶片表面制备具有一定图形结构的聚合物薄膜,并进一步将抗体分子枝接与薄膜表面,形成能够通过抗体‑抗原反应捕获特定生物分子的“天线”阵列,灵敏度高。
搜索关键词: 一种 qcm 晶片 表面 修饰 方法
【主权项】:
1.一种QCM晶片的表面修饰方法,其特征在于:所述表面修饰方法包括如下步骤:步骤1:将表面镀金的QCM晶片用含有0.5%‑1.5%质量分数3‑巯基丙酸乙酯的乙醇溶液浸润0.5‑1.5h,再使用乙醇清洗表面并自然风干;步骤2:用质量分数为0.4‑0.6%的带有活性酯基团的光活性聚合物的乙醇溶液浸润步骤1处理后的QCM晶片,然后使用条形或网格形掩膜覆盖晶片表面,在波长为240‑260nm的紫外光诱导下聚合物与晶片表面发生键合,形成阵列结构;步骤3:使用无水乙醇和去离子水先后清洗步骤2处理后的QCM晶片表面,除去未反应键合的聚合物;步骤4:在25±5℃下使用含有为0.05%‑0.15%质量百分比抗体且pH为8.0‑8.5的0.005‑0.015mol/L缓冲溶液浸泡步骤3处理后的QCM晶片11‑13h,然后使用去离子水清洗晶片,并将晶片在4±1℃下保存于pH=7.0‑8.0的0.01M缓冲溶液中备用。
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