[发明专利]高能脉冲激光测距机光轴检测系统及其检测方法在审

专利信息
申请号: 201811579515.6 申请日: 2018-12-24
公开(公告)号: CN109407076A 公开(公告)日: 2019-03-01
发明(设计)人: 张祥伟;时凯;陶禹;马群;陈玉娇;龚昌妹 申请(专利权)人: 西安工业大学
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497
代理公司: 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 代理人: 黄秦芳
地址: 710032 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提出一种高能脉冲激光测距机光轴检测系统及其检测方法,该系统由扩束系统、光衰减系统、光吸收系统、CCD以及后处理系统等组成,采用抗损伤阈值更高的反射式衰减;后向反射的大部分激光由光吸收系统进行处理;通过反射式光衰减器后,入射到一个可调光衰减器上,对光进行不同程度的衰减;透过可调光衰减器的激光被CCD所接收;后端处理器将CCD接收到的光斑进行数据处理,然后利用算法精确定位质心位置,从而可以确定激光束轴线的位置。本发明采用新型的光栅型光吸收系统对高能激光进行处理,因此可大大减小系统的体积,使得整个测量系统更加紧凑,可以适应更多的应用场景。
搜索关键词: 可调光衰减器 激光测距机 高能脉冲 光轴检测 光吸收 衰减 激光 光衰减系统 后处理系统 后端处理器 激光束轴线 光斑 测量系统 反射式光 高能激光 光栅型光 后向反射 扩束系统 吸收系统 应用场景 质心位置 数据处理 反射式 抗损伤 衰减器 检测 减小 入射 算法 紧凑
【主权项】:
1.高能脉冲激光测距机光轴检测系统,其特征在于:包括脉冲激光器(101)、扩束镜组(102)、衰减片(103)、光吸收装置(104)、可调光衰减器(108)、CCD(109)和数据处理系统(110);所述的脉冲激光器(101)、扩束镜组(102)、衰减片(103)、可调光衰减器(108)和CCD(109)依次沿光轴方向设置,光吸收装置(104)设置于衰减片(103)的下方,数据接收系统(110)设置于CCD(109)后端用于接收CCD(109)光斑进行数据处理;所述的光吸收装置(104)包括蓝宝石片(105)、TEC(106)和散热片(107);所述的蓝宝石片(105)、TEC(106)和散热片(107)依次粘接于一体;所述的衰减片(103)为反射式衰减片,衰减片基底为100晶向GaAs衬底,衬底表面设置若干层反射薄膜,反射薄膜的高低折射率材料为SiO2/HfO2,生长的对数为12对;所述的光吸收装置(104)为亚波长金属光栅,金属光栅材料为金属Au,光栅周期小于入射的光波波长,金属光栅光栅条的方向与激光的偏振方向完全相同,所述的蓝宝石片(105)的衬底片大小与激光束尺寸相等。
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