[发明专利]高能脉冲激光测距机光轴检测系统及其检测方法在审
申请号: | 201811579515.6 | 申请日: | 2018-12-24 |
公开(公告)号: | CN109407076A | 公开(公告)日: | 2019-03-01 |
发明(设计)人: | 张祥伟;时凯;陶禹;马群;陈玉娇;龚昌妹 | 申请(专利权)人: | 西安工业大学 |
主分类号: | G01S7/497 | 分类号: | G01S7/497 |
代理公司: | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 | 代理人: | 黄秦芳 |
地址: | 710032 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明提出一种高能脉冲激光测距机光轴检测系统及其检测方法,该系统由扩束系统、光衰减系统、光吸收系统、CCD以及后处理系统等组成,采用抗损伤阈值更高的反射式衰减;后向反射的大部分激光由光吸收系统进行处理;通过反射式光衰减器后,入射到一个可调光衰减器上,对光进行不同程度的衰减;透过可调光衰减器的激光被CCD所接收;后端处理器将CCD接收到的光斑进行数据处理,然后利用算法精确定位质心位置,从而可以确定激光束轴线的位置。本发明采用新型的光栅型光吸收系统对高能激光进行处理,因此可大大减小系统的体积,使得整个测量系统更加紧凑,可以适应更多的应用场景。 | ||
搜索关键词: | 可调光衰减器 激光测距机 高能脉冲 光轴检测 光吸收 衰减 激光 光衰减系统 后处理系统 后端处理器 激光束轴线 光斑 测量系统 反射式光 高能激光 光栅型光 后向反射 扩束系统 吸收系统 应用场景 质心位置 数据处理 反射式 抗损伤 衰减器 检测 减小 入射 算法 紧凑 | ||
【主权项】:
1.高能脉冲激光测距机光轴检测系统,其特征在于:包括脉冲激光器(101)、扩束镜组(102)、衰减片(103)、光吸收装置(104)、可调光衰减器(108)、CCD(109)和数据处理系统(110);所述的脉冲激光器(101)、扩束镜组(102)、衰减片(103)、可调光衰减器(108)和CCD(109)依次沿光轴方向设置,光吸收装置(104)设置于衰减片(103)的下方,数据接收系统(110)设置于CCD(109)后端用于接收CCD(109)光斑进行数据处理;所述的光吸收装置(104)包括蓝宝石片(105)、TEC(106)和散热片(107);所述的蓝宝石片(105)、TEC(106)和散热片(107)依次粘接于一体;所述的衰减片(103)为反射式衰减片,衰减片基底为100晶向GaAs衬底,衬底表面设置若干层反射薄膜,反射薄膜的高低折射率材料为SiO2/HfO2,生长的对数为12对;所述的光吸收装置(104)为亚波长金属光栅,金属光栅材料为金属Au,光栅周期小于入射的光波波长,金属光栅光栅条的方向与激光的偏振方向完全相同,所述的蓝宝石片(105)的衬底片大小与激光束尺寸相等。
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