[发明专利]一种基于试验数据的传感器元件质量评估方法

摘要

本发明提供一种基于试验数据的传感器元件质量评估方法，用于传感器元件的可靠性筛选，该方法基于传感器元件试验数据，采用相关性分析和主成分分析的数学方法发掘传感器元件试验过程数据隐含的信息，并采用概率统计的方法对分析结果进行量化和数据判读，以剔除存在风险的传感器元件。本发明从试验数据分析角度出发，能有效弥补传统方法仅依靠可靠性试验进行筛选的不足，可以很好地用于传感器元件的可靠性筛选，尤其适用于航空、航天等领域对传感器元件可靠性要求高的场合。

主权项

1.一种基于试验数据的传感器元件质量评估方法，其特征在于步骤如下：a)对传感器元件长期通电，在满量程下，记录同批次所有传感器元件在满量程下的输出信号；b)对同批次所有传感器元件在满量程下的输出信号数据，采用互相关系数计算方法计算每只元件与同批次其他元件数据的互相关系数，将其中互相关系数为负值的互相关系数记为零，之后计算得到每只传感器元件与同批次其他元件数据互相关系数的均值Q，作为下一步的输入；c)根据步骤b)获得的每只传感器元件与同批次其他元件数据互相关系数的均值Q进行统计，计算得到互相关计算结果，即同批次试验的所有传感器元件互相关系数均值Q的均值和标准差；d)对步骤c)的互相关计算结果进行分级；e)对传感器元件进行标定，记录同批次试验的所有传感器元件在不同标定点下的输出信号；f)对每只传感器元件获得的标定数据进行标准化处理；采用主成分分析计算方法对每只传感器元件标准化后的数据提取第一主成分的贡献率；g)根据步骤f)获得的每只传感器元件第一主成分贡献率进行统计，计算得到主成分分析结果，即同批次试验的所有传感器元件第一主成分贡献率均值和标准差；h)对步骤g)主成分分析结果进行分级；i)根据d)和h)中得到的分级结果，比较两个分级结果，取两个分级结果当中等级更差的一个作为传感器元件的质量评估结果。