[发明专利]一种膜片受压式压力表校准工装及使用方法在审

专利信息
申请号: 201811582001.6 申请日: 2018-12-24
公开(公告)号: CN109632184A 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: 韦学元 申请(专利权)人: 贵州航天计量测试技术研究所
主分类号: G01L27/00 分类号: G01L27/00
代理公司: 中国航天科工集团公司专利中心 11024 代理人: 葛鹏
地址: 550009 贵州省贵阳市*** 国省代码: 贵州;52
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摘要: 本公开涉及一种膜片受压式压力表校准工装及使用方法,所述工装包括:下端双规格螺纹、密封圈、上端缺口式半通螺母,所述下端双规格螺纹的上部中央设置密封圈,并通过所述上端缺口式半通螺母进行相互锁紧。本发明的优点是:结构简单,工装内外径可依据常见的膜片受压式压力表的膜片受压尺寸适当放大放宽、尽可能满足不同规格的膜片受压式压力表、只需改变密封圈尺寸来配合被校膜片受压式压力表的受压膜片尺寸,从而减少了工装制作成本和投入制作工装时间,为客户也为自己赢得更多的时间。
搜索关键词: 压力表 膜片 受压 工装 密封圈 螺母 规格螺纹 上端缺口 校准 下端 工装制作 受压膜片 中央设置 锁紧 放大 客户 制作 配合
【主权项】:
1.一种膜片受压式压力表校准工装,其特征在于,包括:下端双规格螺纹、密封圈、上端缺口式半通螺母,所述下端双规格螺纹的上部中央设置密封圈,并通过所述上端缺口式半通螺母进行相互锁紧。
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