[发明专利]一种基于光学相干断层扫描图像的真空包装漏气检测方法有效
| 申请号： | 201811583909.9 | 申请日： | 2018-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN109580099B | 公开（公告）日： | 2020-10-02 |
| 发明（设计）人： | 周扬;陈正伟;黄俊;石龙杰;汪凤林;刘铁兵;毛建卫 | 申请（专利权）人： | 浙江科技学院 |
| 主分类号： | G01M3/00 | 分类号： | G01M3/00 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 林超 |
| 地址： | 310023 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于光学相干断层扫描图像的真空包装漏气检测方法。针对抽真空后物品包装，包装包括包覆于物品两侧的两层膜型结构，通过光学相干断层扫描采集获取包装内空间位于物品周围附近且位于非物品所在处的两层膜型结构的OCT图像，利用OCT图像处理分析获得包装内空间的两层膜型结构的关系，进而进行真空包装漏气检测。本发明可以弥补现有压差法、真空衰减测试法、CO2示踪气体法和超声波测试法等真空包装泄露测试法存在的设备体积大，检测时间长，附加设备设施要求高等缺点，通过对包装层快速成像完成漏气判别，提高了后期真空包装泄露检测的准确性和普适性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光学 相干 断层 扫描 图像 真空包装 漏气 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于光学相干断层扫描图像的真空包装漏气检测方法，其特征在于：针对抽真空后物品包装，包装包括包覆于物品两侧的两层膜型结构，通过光学相干断层扫描采集获取包装内空间位于物品周围附近且位于非物品所在处的两层膜型结构的OCT图像，利用OCT图像处理分析获得包装内空间的两层膜型结构的关系，进而进行真空包装漏气检测。
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