[发明专利]一种基于结构光场成像的三维轮廓测量方法有效

专利信息
申请号: 201811588196.5 申请日: 2018-12-25
公开(公告)号: CN109506589B 公开(公告)日: 2020-07-28
发明(设计)人: 周平;于云雷;张玉婷 申请(专利权)人: 东南大学苏州医疗器械研究院
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 奚幼坚
地址: 215163 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种基于结构光场成像的三维轮廓测量方法,其特征在于,建立由光场相机与投影仪构成的成像系统,投影仪向被测物体投射原始编码光栅,光场相机拍摄经被测物体轮廓调制后的编码光栅图像,对光场相机所拍摄得到的经被测物体轮廓调制后的编码光栅图像进行解码,根据解码后所得信息对物体轮廓进行三维重建;将三维轮廓测量问题归结为求解含有物点三维坐标三个未知数的三个方程,其中,对成像系统进行标定后,由待测物体成像于光场相机中心子孔径图像的过程确定二个方程,由采用解码后的图像信息确定第三个方程,通过求解上述三个方程构成的方程组,实现三维轮廓测量。
搜索关键词: 一种 基于 结构 成像 三维 轮廓 测量方法
【主权项】:
1.一种基于结构光场成像的三维轮廓测量方法,其特征在于,建立由光场相机与投影仪构成的成像系统,投影仪向被测物体投射原始编码光栅,光场相机拍摄经被测物体轮廓调制后的编码光栅图像,对光场相机所拍摄得到的经被测物体轮廓调制后的编码光栅图像进行解码,根据解码后所得信息对物体轮廓进行三维重建;将三维轮廓测量问题归结为求解含有物点三维坐标三个未知数的三个方程,其中,对成像系统进行标定后,由待测物体成像于光场相机中心子孔径图像的过程确定二个方程,由采用解码后的图像信息确定第三个方程,通过求解上述三个方程构成的方程组,实现三维轮廓测量。
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