[发明专利]一种芯片测试装置、系统和方法在审
| 申请号： | 201811589025.4 | 申请日： | 2018-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN109490760A | 公开（公告）日： | 2019-03-19 |
| 发明（设计）人： | 陈炳锐;方彬浩;肖夕 | 申请（专利权）人： | 京信通信系统（中国）有限公司;京信通信系统（广州）有限公司;京信通信技术（广州）有限公司;天津京信通信系统有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华 |
| 地址： | 510663 广东省广州*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例涉及电子技术领域，尤其涉及一种芯片测试装置、系统和方法，用以提供一个通用的测试装置适应多种型号芯片。本发明实施例中的芯片测试装置包括测试底板；所述测试底板包括测试控制单元、测试接口单元、电源接入单元和芯片接入单元；所述测试控制单元至少包括可编程逻辑单元，所述可编程逻辑单元用于提供适用于待测芯片的逻辑电路；所述芯片接入单元用于提供与所述待测芯片相适应的芯片接口，以使所述待测芯片与所述可编程逻辑单元电性相连；所述测试接口单元，与所述测试控制单元电连接，用于接收操作设备发送的测试指令并向所述可编程逻辑单元提供；所述电源接入单元用于连接电源，为所述测试底板供电。 | ||
| 搜索关键词： | 可编程逻辑单元 测试控制单元 芯片测试装置 测试底板 待测芯片 测试接口单元 电源接入单元 接入单元 芯片 电子技术领域 测试指令 测试装置 电性相连 接收操作 连接电源 设备发送 芯片接口 电连接 通用的 供电 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试装置，其特征在于，至少包括测试底板；所述测试底板包括测试控制单元、测试接口单元、电源接入单元和芯片接入单元；所述测试控制单元至少包括可编程逻辑单元，所述可编程逻辑单元用于提供适用于待测芯片的逻辑电路；所述芯片接入单元用于提供与所述待测芯片相适应的芯片接口，以使所述待测芯片与所述可编程逻辑单元电性相连；所述测试接口单元，与所述测试控制单元电连接，用于接收操作设备发送的测试指令并向所述可编程逻辑单元提供；所述电源接入单元用于连接电源，为所述测试底板供电。
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