[发明专利]光电经纬仪的成像质量检测系统有效

专利信息
申请号: 201811589446.7 申请日: 2018-12-25
公开(公告)号: CN109737986B 公开(公告)日: 2021-06-15
发明(设计)人: 王丹丹;张春林 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00;G01M11/02
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 吴乃壮
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明适用光电检测技术领域,提供了一种光电经纬仪的成像质量检测系统,该系统包括依次沿光路方向的投影组件、轴端连接筒、调焦组件和反射镜;所述反射镜位于所述光电经纬仪的四通内;所述轴端连接筒用于将所述系统固定于光电经纬仪上;所述调焦组件固定于所述轴端连接筒内;所述投影组件与所述轴端连接筒相连,用于提供静态虚拟光学目标与检测图像。从而在不影响光电经纬仪工作的同时能够随时实现光电经纬仪的成像质量检测,大大提高了光电经纬仪成像质量检测的便利性。
搜索关键词: 光电 经纬仪 成像 质量 检测 系统
【主权项】:
1.一种光电经纬仪的成像质量检测系统,其特征在于,所述系统包括依次沿光路方向设置的投影组件、轴端连接筒、调焦组件和反射镜;所述反射镜位于所述光电经纬仪的四通内;所述轴端连接筒用于将所述系统固定于光电经纬仪上;所述调焦组件固定于所述轴端连接筒内;所述投影组件与所述轴端连接筒相连,用于提供静态虚拟光学目标与检测图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811589446.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top