[发明专利]一种扭秤式两自由度测力天平及其校准、测力方法有效
| 申请号： | 201811589606.8 | 申请日： | 2018-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN109580163B | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 张代贤;史喆羽;李国强;胡站伟;阳鹏宇;黄勇;肖京平;王万波;覃晨 | 申请（专利权）人： | 中国空气动力研究与发展中心低速空气动力研究所 |
| 主分类号： | G01M9/06 | 分类号： | G01M9/06;G01M10/00 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 朱小兵 |
| 地址： | 621000 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种扭秤式两自由度测力天平及其校准、测力方法，属于试验测试领域。该测力天平，包括天平台架机构，光学测量机构，标定机构；天平台架机构用于将试验模型受到的矢量力分解为水平与竖直方向分量，并在水平和竖直方向上产生扭转形变；光学测量机构用于测量天平台架机构的水平和竖直方向的扭转形变；标定机构用于对光学测量机构的测量过程开展标定。天平台架机构实现对试验模型两个方向的受力分量开展测量，天平利用永磁体阵列与直导线阵列分别在两个测力自由度上构成的电磁标定装置，能够实现对测力过程的在线实时标定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 扭秤 自由度 测力 天平 及其 校准 方法 | ||
【主权项】：
1.一种扭秤式两自由度测力天平，其特征在于：包括天平台架机构，光学测量机构，标定机构；其中，天平台架机构用于将试验模型（1）受到的矢量力分解为水平方向与竖直方向分量，并分别在水平方向与竖直方向上产生扭转形变；光学测量机构用于测量天平台架机构水平与竖直方向的扭转形变；标定机构用于对光学测量机构的测量过程开展标定。
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