[发明专利]一种基于FPGA查找表的坏簇统计方法及装置有效
| 申请号： | 201811591035.1 | 申请日： | 2018-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN109671081B | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 郭慧;姚毅 | 申请（专利权）人： | 凌云光技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06F16/22;G06F16/23 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 100094 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供了一种基于FPGA查找表的坏簇统计方法及装置，方法包括：首先获取图像传感器的平场图像，将平场图像进行坏点检测处理，输出坏点位置数据，利用基于FPGA查找表的扫描法根据坏点位置数据对坏点进行一次扫描处理，根据一次扫描数据创建原查找表，对一次扫描数据进行合并处理，根据合并处理数据对查找表进行更新处理，得到更新后的查找表，数据比较处理得到最终查找表，根据最终查找表统计坏簇数量。本申请实施例提供的技术方案，引入FPGA最擅长的查找表，将经过图像坏点检测的位置数据应用于查找表，通过查找表和数据扫描处理相互配合检验，得到最终的查找表，根据最终的查找表统计得到坏簇的数量，减少比较运算次数，适宜在FPGA上实现。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 fpga 查找 统计 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于FPGA查找表的坏簇统计方法，其特征在于，所述方法包括：获取图像传感器的平场图像；将所述平场图像进行坏点检测处理，输出坏点位置数据；利用基于连通域的扫描法根据所述坏点位置数据对所述坏点进行一次扫描处理，得到一次扫描数据；根据所述一次扫描数据创建原查找表；对所述一次扫描数据进行合并处理，得到合并扫描数据；根据所述合并处理数据对所述查找表进行更新处理，得到更新后的查找表；判断所述更新后的查找表索引与所述更新后的查找表内容是否一致；如果所述更新后的查找表索引与所述更新后的查找表内容一致，则以所述更新后的查找表内容为索引，如果所述更新后的查找表索引与所述更新后的查找表内容不一致，则重复所述对所述一次扫描数据进行合并处理，直至所述更新后的查找表索引与所述更新后的查找表内容一致，得到最终查找表；根据所述最终查找表统计坏簇数量。
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