[发明专利]一种eMMC芯片测试方法和装置有效

专利信息
申请号: 201811594349.7 申请日: 2018-12-25
公开(公告)号: CN111370049B 公开(公告)日: 2022-03-29
发明(设计)人: 刘方方 申请(专利权)人: 北京兆易创新科技股份有限公司;合肥格易集成电路有限公司
主分类号: G11C29/08 分类号: G11C29/08;G11C29/56
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 莎日娜
地址: 100083 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供了一种eMMC芯片测试方法与装置,该方法包括:加载U‑Boot测试程序;在所述U‑Boot测试程序对应的显示界面上接收第一测试指令;将所述第一测试指令解析成U‑Boot格式的U‑Boot测试命令;根据所述U‑Boot测试命令,确定所述eMMC芯片的运行方式和测试内容;采用所述运行方式,针对所述测试内容,对所述eMMC芯片进行对应的测试。即本发明实施例中,通过加载U‑Boot测试程序,在U‑Boot环境下对eMMC芯片进行测试,能够在任何Linux系统的测试平台上对eMMC芯片,提升eMMC芯片在Linux系统下测试的便利性与灵活性。
搜索关键词: 一种 emmc 芯片 测试 方法 装置
【主权项】:
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