[发明专利]一种光电模块反向测试方法及故障诊断判别方法

摘要

本发明公开了一种光电模块反向测试方法及故障诊断判别方法。该方法具体步骤包括：外观检查、基本光电检查、故障复现检查，对于故障复现模块则继续进行系统测试、损耗计算和故障定位分析；对于故障未复现模块采取温湿度环境模拟试验检测，如若故障复现则转到系统测试步骤，如若仍未能复现则继续进行Allan方差计算和探测器返回及相位调制信号检测，利用上述计算结果对比设定的阈值条件进行性能评估，性能较差的模块作为试验材料，性能较好的模块作为备品备件。本发明具有故障诊断和判别全面、准确、可靠的特点。

主权项

1.一种光电模块反向测试方法，所述光电模块包括光源(1)、耦合器A(2)、Y波导(3)、耦合器B(4)、光纤延迟环(5)、光电探测器(6)；其特征在于：包括如下步骤：步骤一、测试耦合器A(2)与光电探测器(6)之间的光纤熔点的损耗，当该损耗值大于相应预设值时，对该熔点进行分离测试和故障排查，转入步骤九；否则转入步骤二；步骤二、测试光纤延迟环(5)与外部光纤之间的光纤熔点的损耗，当该损耗值大于相应预设值时，对该熔点进行分离测试和故障排查，转入步骤九；否则转入步骤三；步骤三、测试耦合器B(4)与光纤延迟环(5)之间的光纤熔点的损耗，测试光纤延迟环(5)的附加损耗；当耦合器B(4)与光纤延迟环(5)之间的光纤熔点的损耗值小于等于相应预设值，且，光纤延迟环(5)的附加损耗小于等于相应预设值时，转入步骤四；否则当耦合器B(4)与光纤延迟环(5)之间的光纤熔点的损耗值大于相应预设值，对该熔点进行分离测试和故障排查，然后转入步骤九，当光纤延迟环(5)的附加损耗大于相应预设值时，对光纤延迟环(5)进行分离测试和故障排查，然后转入步骤九；步骤四、测试耦合器B(4)的两个输出端的输出光功率比，当该输出光功率比大于相应预设值时，对耦合器B(4)进行分离测试和故障排查，然后转入步骤九；否则转入步骤五；步骤五、测试耦合器B(4)的两个输入端分别与Y波导(3)之间的光纤熔点的损耗，当该损耗值均分别小于等于相应预设值时，转入步骤六；否则对步骤五中任一损耗值大于相应预设值的光纤熔点进行分离测试和故障排查，然后转入步骤九；步骤六、测试Y波导(3)的分光比，当该分光比大于相应预设值时，对Y波导(3)进行分离测试和故障排查，然后转入步骤九；否则测试耦合器B(4)的附加损耗，当该附加损耗大于相应预设值时，对耦合器B(4)进行分离测试和故障排查，如果该附加损耗小于等于相应预设值，则测试Y波导(3)的附加损耗，当该附加损耗大于相应预设值时，对Y波导(3)进行分离测试和故障排查，然后转入步骤九，如果该附加损耗小于等于相应预设值时，转入步骤七；步骤七、测试耦合器A(2)与Y波导(3)之间的光纤熔点的损耗，当该损耗值大于相应预设值时，对该熔点进行分离测试和故障排查，然后转入步骤九；否则测试耦合器A(2)的两个输出端的输出光功率比，当该输出光功率比大于相应预设值时，对耦合器A(2)进行分离测试和故障排查，然后转入步骤九；否则转入步骤八；步骤八、测试耦合器A(2)与光源(1)之间的光纤熔点的损耗，当该损耗值大于相应预设值时，对该熔点进行分离测试和故障排查，然后转入步骤九；否则测试光源(1)输出的光功率值，当该光功率值小于相应预设值，对光源(1)进行分离测试和故障排查，然后转入步骤九，如果该光功率值大于等于相应预设值，转入步骤九；步骤九、光电模块反向测试结束。