[发明专利]一种光学系统标定方法在审
| 申请号： | 201811597159.0 | 申请日： | 2018-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN109724621A | 公开（公告）日： | 2019-05-07 |
| 发明（设计）人： | 康玉思;谭向全;郭永飞;吴清文;张旭升;王忠素;姜爱民;陈立恒;申军立;郭亮;徐振邦 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00;G01D18/00 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 吴乃壮 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种光学系统标定方法，所述方法包括以下步骤：调节自准直经纬仪通过校准镜与基座准直；自准直经纬仪发出的光经由可旋转的导光臂导光后，分别进入基座上各个光学系统；调整光学系统在基座上的位姿，使得各个光学系统之间分别与自准直经纬仪准直。本发明通过调整光学系统在基座上的位姿，使得各个光学系统分布于自准直经纬仪准直，从而使得各个光学系统之间保持平行，具有基准统一、速度快、准确度高等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 光学系统 经纬仪 自准直 准直 调整光学系统 标定 位姿 基准统一 可旋转的 准确度 导光臂 校准镜 导光 平行 | ||
【主权项】：
1.一种光学系统标定方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：调节自准直经纬仪通过校准镜与基座准直；自准直经纬仪发出的光经由可旋转的导光臂导光后，分别进入基座上各个光学系统；调整光学系统在基座上的位姿，使得各个光学系统之间分别与自准直经纬仪准直。
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