[发明专利]一种时序参数聚类的典型仿真条件推荐方法有效
| 申请号： | 201811601063.7 | 申请日： | 2018-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN109670255B | 公开（公告）日： | 2020-04-07 |
| 发明（设计）人： | 江荣贵;郭超;石华俊;陈彬 | 申请（专利权）人： | 北京华大九天软件有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F30/398 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 王金双 |
| 地址： | 100102 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种时序参数聚类的典型仿真条件推荐方法，包括以下步骤：构建运行条件集、路径参数集和单元参数集；将所述路径参数集和所述单元参数集进行Z‑score归一化，并进行统计分析提取典型统计参量；进行ISODATA聚类分析得到所述路径参数集和所述单元参数集对应的聚类类别；建立监督分类模型，确定电路不同的工作模式所对应的仿真条件边界。本发明在多仿真条件下获取电路关键路径和内部单元相关的时序参数构建样本数据集，通过ISODATA聚类算法完成时序参数的归类和筛选，并定位到典型的仿真运行条件推荐给用户，加快电路时序验证及分析过程，进而缩短芯片设计周期。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 时序 参数 典型 仿真 条件 推荐 方法 | ||
【主权项】：
1.一种时序参数聚类的典型仿真条件推荐方法，其特征在于，包括以下步骤：1）构建运行条件集、路径参数集和单元参数集；2）将所述路径参数集和所述单元参数集进行Z‑score归一化，并进行统计分析提取典型统计参量；3）进行ISODATA聚类分析得到所述路径参数集和所述单元参数集对应的聚类类别；4）建立监督分类模型，确定电路不同的工作模式所对应的仿真条件边界。
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