[发明专利]一种MEMS器件晶圆级系统封装方法以及封装结构有效

专利信息
申请号: 201811601719.5 申请日: 2018-12-26
公开(公告)号: CN109665487B 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 敖萨仁;石虎;李洪昌;孙尧中;李海江 申请(专利权)人: 中芯集成电路(宁波)有限公司
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;B81B7/00;B81B7/02
代理公司: 北京市磐华律师事务所 11336 代理人: 高伟;冯永贞
地址: 315800 浙江省宁波市北*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了一种MEMS器件晶圆级系统封装方法以及封装结构。所述方法包括:提供MEMS芯片,在所述MEMS芯片上形成有MEMS器件和位于所述MEMS器件外侧的第一密封环;提供承载晶圆,在所述承载晶圆上形成有与所述第一密封环上下对应的第二密封环;通过所述第一密封环和所述第二密封环将所述MEMS芯片与所述承载晶圆接合,以在所述MEMS芯片和所述承载晶圆之间形成容纳所述MEMS器件的密闭的空腔。本发明的所述方法不仅能满足对于器件的气密性要求,可以达到各个传感元件间的高效连通,同时可从封装单个器件提升到单次晶圆级封装的水平,制备效率更加高效,不仅可以防止器件的物理损耗,还可以保护其避免外界环境的干扰,有利于器件的性能和长期稳定性。
搜索关键词: 一种 mems 器件 晶圆级 系统 封装 方法 以及 结构
【主权项】:
1.一种MEMS器件晶圆级系统封装方法,其特征在于,所述方法包括:提供MEMS芯片,在所述MEMS芯片上形成有MEMS器件和位于所述MEMS器件外侧的第一密封环;提供承载晶圆,在所述承载晶圆上形成有与所述第一密封环上下对应的第二密封环;通过所述第一密封环和所述第二密封环将所述MEMS芯片与所述承载晶圆接合,以在所述MEMS芯片和所述承载晶圆之间形成容纳所述MEMS器件的密闭的空腔。
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