[发明专利]一种适用于电子设备数模电路嵌入式测试系统在审

专利信息
申请号: 201811602391.9 申请日: 2018-12-26
公开(公告)号: CN109557458A 公开(公告)日: 2019-04-02
发明(设计)人: 靳为东;周靖宇;唐建立;陈长乐;董琦 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01R31/3167 分类号: G01R31/3167
代理公司: 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 代理人: 董雪
地址: 266555 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种适用于电子设备数模电路嵌入式测试系统,包括:模拟功能电路单元和数字功能电路单元;所述模拟功能电路单元对电子设备预留测试点进行模拟电路的模拟信号采集,数字功能电路单元通过激励测试向量完成对带边界扫描模块的数字电路的边界扫描测试,最终采用基于标准芯片封装技术对上述的适用于电子设备数模电路嵌入式测试系统进行芯片封装而成。本发明有益效果:采用标准的数模电路BIT设计和标准芯片封装技术代替传统的使用分离元器件搭建BIT功能电路进行电子设备数模电路的嵌入式测试的方式,可以较好地实现测试资源的易于隔离和可控性。
搜索关键词: 电子设备 数模电路 嵌入式测试 电路单元 标准芯片 模拟功能 数字功能 封装 边界扫描测试 边界扫描模块 模拟信号采集 分离元器件 测试资源 功能电路 激励测试 模拟电路 数字电路 芯片封装 测试点 传统的 可控性 向量 预留 隔离
【主权项】:
1.一种适用于电子设备数模电路嵌入式测试系统,其特征在于,包括:模拟功能电路单元和数字功能电路单元;所述模拟功能电路单元对电子设备预留测试点进行模拟电路的模拟信号采集,数字功能电路单元通过激励测试向量完成对带边界扫描模块的数字电路的边界扫描测试。
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