[发明专利]一种量子产率的测试方法在审
| 申请号： | 201811602824.0 | 申请日： | 2018-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN109507153A | 公开（公告）日： | 2019-03-22 |
| 发明（设计）人： | 薛占强;郭翠;潘奕 | 申请（专利权）人： | 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司;华讯方舟科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63;G01N21/25 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 高星 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明属于量子产率技术领域，提供了一种量子产率的测试方法，通过将待测材料放入积分球内部，先获取激发光的激发光光谱，然后将激发光照射在待测材料上，获取待测材料的光致发光光谱以及激发光的透射光谱，并根据激发光光谱、光致发光光谱以及透射光谱生成待测材料的量子产率，从而使得在探测激发光光谱、光致发光光谱以及透射光谱时无需取出待测材料，保证了测试数据均在同一环境下取得，避免了因为测试环境不同而产生的误差，解决了传统测定量子产率的方法中，在探测激发光的光谱和激发光透射光谱时的测量状态存在差异，导致测定的量子产率出现一定的误差的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 产率 量子 待测材料 透射光谱 激发光 光致发光光谱 激发光光谱 探测 激发光照射 测试 测试环境 测试数据 同一环境 积分球 放入 光谱 测量 取出 保证 | ||
【主权项】：
1.一种量子产率的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：将待测材料放入积分球内部，并获取激发光的激发光光谱；将所述激发光照射在所述待测材料表面，获取所述待测材料的光致发光光谱以及所述激发光的透射光谱；根据所述激发光光谱、所述光致发光光谱以及所述透射光谱生成所述待测材料的量子产率。
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