[发明专利]可兼容多种环境老化试验的方法及系统有效
| 申请号： | 201811603167.1 | 申请日： | 2018-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN109596964B | 公开（公告）日： | 2021-01-01 |
| 发明（设计）人： | 张文亮;李文江;孙浩强;雷小阳;朱阳军 | 申请（专利权）人： | 山东阅芯电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 苏州国诚专利代理有限公司 32293 | 代理人： | 韩凤 |
| 地址： | 264315 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种可兼容多种环境老化试验的方法及系统，其包括试验环境装置以及试验测试电路，利用所述试验环境装置能提供待测功率器件在环境老化试验中所需的试验环境，利用试验测试电路能提供待测功率器件在环境老化试验中所需的电学条件，以能对待测功率器件进行所需的反偏试验或栅偏试验；所述试验环境装置能提供的试验环境包括低温环境、高温环境以及高温高湿环境；通过试验环境装置提供的试验环境和/或试验测试电路加载的电学条件配合，能对待测功率器件进行所需的环境老化试验，本发明利用同一种设备能同时实现多种环境老化试验的测试，提高了测试的综合利用率，降低安装空间和采购成本及后续运维成本。 | ||
| 搜索关键词： | 兼容 多种 环境 老化试验 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种可兼容多种环境老化试验的方法，其特征是，包括试验环境装置以及试验测试电路，利用所述试验环境装置能提供待测功率器件在环境老化试验中所需的试验环境；利用试验测试电路能提供待测功率器件在环境老化试验中所需的电学条件，以能对待测功率器件进行所需的反偏试验或栅偏试验；所述试验环境装置能提供的试验环境包括低温环境、高温环境以及高温高湿环境；通过试验环境装置提供的试验环境和/或试验测试电路加载的电学条件配合，能对待测功率器件进行所需的环境老化试验，对待测功率器件能进行的环境老化试验包括HTRB试验、H3TRB试验、HTGB试验、HTS试验、LTS试验或THS试验。
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