[发明专利]半导体激光器局部均匀度的检测方法、装置及可读存储介质在审
| 申请号： | 201811603665.6 | 申请日： | 2018-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN109580174A | 公开（公告）日： | 2019-04-05 |
| 发明（设计）人： | 林挺 | 申请（专利权）人： | 信利光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 李健威;陈卫 |
| 地址： | 516600 广东省汕*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种半导体激光器局部均匀度的检测方法，包括：步骤1：待测激光器向接收平面发射红外激光，红外摄像头向接收平面拍摄红外激光得到激光图像；步骤2：将激光图像中的激光区域分割为多个子区域，以相邻的若干子区域作为一个局部区域，依据同一局部区域内各个子区域的亮度平均值，判断待测激光器的局部均匀度是否合格。该检测方法可检测出半导体激光器的局部亮度是否均匀，以进行品质管控。本发明还公开了一种半导体激光器局部均匀度的检测装置及可读存储介质。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体激光器 均匀度 可读存储介质 待测激光器 红外激光 激光图像 接收平面 局部区域 子区域 检测 红外摄像头 激光区域 检测装置 可检测 管控 发射 分割 拍摄 | ||
【主权项】：
1.一种半导体激光器局部均匀度的检测方法，其特征在于，包括：步骤1：待测激光器向接收平面发射红外激光，红外摄像头向接收平面拍摄红外激光得到激光图像；步骤2：将激光图像中的激光区域分割为多个子区域，以相邻的若干子区域作为一个局部区域，依据同一局部区域内各个子区域的亮度平均值，判断待测激光器的局部均匀度是否合格。
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