[发明专利]一种芯片测试装置在审
| 申请号： | 201811604418.8 | 申请日： | 2018-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN109459683A | 公开（公告）日： | 2019-03-12 |
| 发明（设计）人： | 蒋卫兵;王坚 | 申请（专利权）人： | 上海捷策创电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国（上海）自*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及测试技术领域，公开一种芯片测试装置，包括测试座组件、加热组件、测温组件和控制器，其中，测试座组件包括固定板组件和导通件；加热组件部分设置在固定板组件中；测温组件可滑动地穿设在加热组件中，且能够与芯片相接触以测量芯片的温度；外设控制器与测试座组件间隔设置，且与加热组件和测温组件电连接，外设控制器包括显示模块，用于输入预设温度和显示温度测量结果。本发明提供的芯片测试装置，外设控制器和显示模块均在常温下工作，延长了外设控制器和显示模块的使用寿命，并且在测试过程中可以调整预设温度，提高了温度控制的灵活性；另外，测温组件可以实现对芯片温度的直接测量，提高了测量的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 外设控制器 测温组件 加热组件 芯片测试装置 显示模块 测试座 固定板组件 芯片 预设 测量 测试技术领域 温度测量结果 测试过程 可滑动地 使用寿命 直接测量 组件包括 组件间隔 控制器 常温下 导通件 电连接 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：测试座组件(1)，包括固定板组件(11)和导通件(12)，芯片(10)设置于所述固定板组件(11)中，并通过所述导通件(12)与外部测试电路导通；加热组件(2)，部分设置在所述固定板组件(11)中，用于对所述芯片(10)加热；测温组件(3)，可滑动地穿设在所述加热组件(2)中，且能够与所述芯片(10)相接触以测量所述芯片(10)的温度；外设控制器(4)，与所述测试座组件(1)间隔设置，且与所述加热组件(2)和所述测温组件(3)电连接，所述外设控制器(4)包括显示模块，用于输入预设温度和显示温度测量结果。
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