[发明专利]一种开短路测试结构及方法在审
| 申请号： | 201811608714.5 | 申请日： | 2018-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN109444724A | 公开（公告）日： | 2019-03-08 |
| 发明（设计）人： | 罗奕;杨勇均 | 申请（专利权）人： | 惠州市科为联创科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京华仲龙腾专利代理事务所(普通合伙) 11548 | 代理人： | 李静 |
| 地址： | 516200 广东省惠州*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种开短路测试结构，包括线路板以及所述线路板上设置的电源、单片机、继电器、输出门限比较器和待测区域，所述单片机分别与所述继电器、所述输出门限比较器和所述待测区域通信连接，所述单片机与所述电源电性连接，所述待测区域电性连接有拨动开关。通过简单的方法，简单的一个小单片机1系统就可以完成几十万测试设备能完成的工作，提高了宝贵测试资源的合理利用，降低了设备的磨损率。 | ||
| 搜索关键词： | 单片机 待测区域 继电器 线路板 短路测试 输出门限 比较器 拨动开关 测试设备 测试资源 电性连接 电源电性 通信连接 磨损率 电源 | ||
【主权项】：
1.一种开短路测试结构，其特征在于：包括线路板以及所述线路板上设置的电源、单片机、继电器、输出门限比较器和待测区域，所述单片机分别与所述继电器、所述输出门限比较器和所述待测区域通信连接，所述单片机与所述电源电性连接，所述待测区域电性连接有拨动开关。
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