[发明专利]一种同时测试双MOS管的检测结构及方法在审
申请号: | 201811608736.1 | 申请日: | 2018-12-27 |
公开(公告)号: | CN109444708A | 公开(公告)日: | 2019-03-08 |
发明(设计)人: | 罗奕;杨勇均 | 申请(专利权)人: | 惠州市科为联创科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 北京华仲龙腾专利代理事务所(普通合伙) 11548 | 代理人: | 李静 |
地址: | 516200 广东省惠州*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种同时测试双MOS管的检测结构,包括线路板,所述线路板上连接有电源、单片机、分选机、第一检测工位、第二检测工位和待测区域;所述单片机依次、分选机、第一检测工位和待测区域通信连接,所述第二检测工位与所述第一检测工位并联设置,所述电源与单片机电连接。通过一次上料、下料同时测试集成有两颗MOS管的产品,减少对产品边缘的夹持次数减少产品损伤。同时一次测试完成两个MOS管避免中途下料再上料的过程中出现混料现象。同时节省了人工和大量的检测设备费用,极大地节省了检测成本。 | ||
搜索关键词: | 工位 检测 单片机 线路板 待测区域 第二检测 双MOS管 分选机 测试 上料 下料 电源 并联设置 测试集成 产品边缘 次数减少 检测设备 通信连接 电连接 混料 夹持 损伤 | ||
【主权项】:
1.一种同时测试双MOS管的检测结构,其特征在于:包括线路板,所述线路板上连接有电源、单片机、分选机、第一检测工位、第二检测工位和待测区域;所述单片机依次、分选机、第一检测工位和待测区域通信连接,所述第二检测工位与所述第一检测工位并联设置,所述电源与单片机电连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于惠州市科为联创科技有限公司,未经惠州市科为联创科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811608736.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。