[发明专利]一种同时测试双MOS管的检测结构及方法在审

专利信息
申请号: 201811608736.1 申请日: 2018-12-27
公开(公告)号: CN109444708A 公开(公告)日: 2019-03-08
发明(设计)人: 罗奕;杨勇均 申请(专利权)人: 惠州市科为联创科技有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京华仲龙腾专利代理事务所(普通合伙) 11548 代理人: 李静
地址: 516200 广东省惠州*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种同时测试双MOS管的检测结构,包括线路板,所述线路板上连接有电源、单片机、分选机、第一检测工位、第二检测工位和待测区域;所述单片机依次、分选机、第一检测工位和待测区域通信连接,所述第二检测工位与所述第一检测工位并联设置,所述电源与单片机电连接。通过一次上料、下料同时测试集成有两颗MOS管的产品,减少对产品边缘的夹持次数减少产品损伤。同时一次测试完成两个MOS管避免中途下料再上料的过程中出现混料现象。同时节省了人工和大量的检测设备费用,极大地节省了检测成本。
搜索关键词: 工位 检测 单片机 线路板 待测区域 第二检测 双MOS管 分选机 测试 上料 下料 电源 并联设置 测试集成 产品边缘 次数减少 检测设备 通信连接 电连接 混料 夹持 损伤
【主权项】:
1.一种同时测试双MOS管的检测结构,其特征在于:包括线路板,所述线路板上连接有电源、单片机、分选机、第一检测工位、第二检测工位和待测区域;所述单片机依次、分选机、第一检测工位和待测区域通信连接,所述第二检测工位与所述第一检测工位并联设置,所述电源与单片机电连接。
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