[发明专利]数控系统综合性能测试方法与装置在审
| 申请号： | 201811610553.3 | 申请日： | 2018-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN109656196A | 公开（公告）日： | 2019-04-19 |
| 发明（设计）人： | 曹建福;陈乐瑞;李党超 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学;广东顺德西安交通大学研究院 |
| 主分类号： | G05B19/401 | 分类号： | G05B19/401 |
| 代理公司： | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人： | 段俊涛 |
| 地址： | 710049 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 一种数控系统综合性能测试方法与装置，适用于对高端数控系统轨迹控制的动静态性能进行测试分析，主要由5轴机械平台、驱动器单元、传感器单元、数据采集单元、5轴数控系统、数据预处理模块、综合性能分析模块和显示单元等组成，传感器包括光栅尺、振动传感器、加速度传感器等；综合性能分析模块可以测试数控系统的单轴阶跃信号响应特性、单轴静态特性、单轴正弦信号响应特性、单轴低速特性与快速运动特性、多轴插补精度、插补段过度特性和微小线段加工特性等诸多综合性能指标。测试时由数控系统产生期望加工轨迹并控制机械平台运动，由传感器采集闭环运动数据，实时获得综合性能分析结果，克服了传统需依赖切削过程完成数控系统性能测试的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 数控系统 单轴 综合性能 综合性能测试 分析模块 响应特性 插补 数据预处理模块 加速度传感器 数据采集单元 综合性能指标 传感器采集 传感器单元 动静态性能 驱动器单元 振动传感器 测试 闭环运动 测试分析 低速特性 轨迹控制 过程完成 机械平台 加工轨迹 加工特性 阶跃信号 静态特性 快速运动 实时获得 微小线段 性能测试 正弦信号 光栅尺 轴机械 切削 传感器 多轴 高端 期望 | ||
【主权项】：
1.一种数控系统综合性能测试方法，其特征在于，包括：步骤1，控制机械平台按期望加工轨迹运动，测量闭环运动参数数据；步骤2，对所述数据进行预处理；步骤3，将预处理后的数据进行性能分析，实现多种性能指标的分析测试，所述性能分析包括单轴动态跟踪性能测试、多轴插补性能测试、微小线段加工性能测试和主轴性能测试；步骤4，将分析测试结果通过显示终端以数据或者图像的形式进行显示。
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