[发明专利]一种基于侧抛式全光纤F-P结构的压力检测方法有效
| 申请号： | 201811614339.5 | 申请日： | 2018-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN109682513B | 公开（公告）日： | 2021-07-13 |
| 发明（设计）人： | 董明利;张雯;刘小龙;何巍;祝连庆;张乾坤;娄小平 | 申请（专利权）人： | 北京信息科技大学 |
| 主分类号： | G01L1/24 | 分类号： | G01L1/24;G01L11/02 |
| 代理公司： | 北京市科名专利代理事务所(特殊普通合伙) 11468 | 代理人： | 陈朝阳 |
| 地址： | 100085 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于侧抛式全光纤F‑P结构的压力检测方法，包括：利用化学腐蚀法腐蚀单模光纤一端，得到F‑P腔；使用侧面抛磨系统在F‑P腔两侧进行抛磨，得到侧抛式全光纤F‑P结构；将侧抛式全光纤F‑P结构与环形器、宽带光源、光谱分析仪组成压力测试系统；将侧抛式全光纤F‑P结构抛磨一端置于待测环境中，F‑P腔随外界压力变化产生轴向形变，根据压力、腔长、干涉光谱的变化关系，分析光谱分析仪采集的干涉光谱即可得到压力的大小。本发明压力检测方法采用化学腐蚀法制备的F‑P腔光滑且对比度、灵敏度高，并通过对F‑P腔侧面进行抛磨，使得腔体侧面变薄，对于气压更加敏感，能够用于临床医学检测气压，尤其是监测心脏稳定器对心脏吸附得压力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 侧抛式全 光纤 结构 压力 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于侧抛式全光纤F‑P结构的压力检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、利用化学腐蚀法腐蚀单模光纤一端，得到F‑P腔；使用侧面抛磨系统在F‑P腔两侧进行抛磨，得到侧抛式全光纤F‑P结构；步骤2、将上述侧抛式全光纤F‑P结构未抛磨一端与环形器的输出端连接，环形器的输入端与宽带光源连接，环形器的折射端与光谱分析仪连接，组成压力测试系统；步骤3、将侧抛式全光纤F‑P结构抛磨一端置于待测环境中，F‑P腔随外界压力变化产生轴向形变，根据压力、腔长、干涉光谱的变化关系，分析光谱分析仪采集的干涉光谱即可得到压力的大小。
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