[发明专利]一种压应变PMOS器件在审
申请号: | 201811619947.5 | 申请日: | 2018-12-28 |
公开(公告)号: | CN111384157A | 公开(公告)日: | 2020-07-07 |
发明(设计)人: | 刘奕晨 | 申请(专利权)人: | 西安科锐盛创新科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/16 | 分类号: | H01L29/16;H01L29/423;H01L29/78 |
代理公司: | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 孙涛涛 |
地址: | 710065 陕西省西安市高新区高新路86号*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明涉及一种压应变PMOS器件,包括:Si衬底(101)、Ge外延层(102)、Ge沟道层(103)、栅极(104)、SiGe层(105)、源区(106)、漏区(107)、源极(108)、漏极(109)和介质层(110);其中,所述Ge外延层(102)和所述Ge沟道层(103)依次设置于所述Si衬底(101)上;所述栅极(104)设置于所述Ge沟道层(103)表面中间位置处;所述SiGe层(105)设置于所述Ge沟道层(103)表面且位于所述栅极(104)外侧。本发明提供的压应变PMOS器件其载流子迁移率显著高于传统PMOS器件载流子迁移率,器件工作速度高、频率特性好。 | ||
搜索关键词: | 一种 应变 pmos 器件 | ||
【主权项】:
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