[发明专利]一种寄存器及内存中顺序数组的数据编码及校验方法有效

专利信息
申请号: 201811624517.2 申请日: 2018-12-28
公开(公告)号: CN109753369B 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 李林;温建新 申请(专利权)人: 上海微阱电子科技有限公司
主分类号: G06F9/54 分类号: G06F9/54;G06F11/10;H03M13/29
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人: 陶金龙;张磊
地址: 201203 上海市浦东新区中国*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种寄存器或内存中顺序数组的数据校验方法,其包括接收多组数据并按基于栈的后进先出或基于队列的先进先出的顺序存入寄存器或内存中;其中,多组数据来源于一个数据输入通道或多个数据输入通道;从寄存器或内存中按顺序提取N组数据拼接形成一个第一顺序数据组,并采用编/解码协议对第一顺序数据组的数据信息进行编码,形成第二顺序数据组;采用汉明码进行对第二顺序数据组中所有比特位进行校验,判断第二顺序数据组是否出错比特位,从而判断第一顺序数据组或校验位是否有错误;根据判断结果,按照编/解码的校验协议对第一顺序数据组的数据信息进行错误比特位定位和纠错。本发明确保顺序数据在寄存器或内存间传输时的一致性且实现高可靠性纠错。
搜索关键词: 一种 寄存器 内存 顺序 数组 数据 编码 校验 方法
【主权项】:
1.一种寄存器或内存中顺序数组的数据校验方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1:接收多组数据,并按基于栈的后进先出或基于队列的先进先出的顺序存入寄存器或内存中;其中,所述多组数据来源于一个数据输入通道或多个数据输入通道;步骤S2:从所述寄存器或内存中按顺序提取N组数据拼接形成一个第一顺序数据组,并采用编/解码协议对所述第一顺序数据组的数据信息进行编码,形成第二顺序数据组;其中,所述第二顺序数据组包括所述第一顺序数据组数据信息的比特位加上K比特位校验码信息;步骤S3:采用所述编/解码协议对所述第二顺序数据组中所有比特位进行校验,判断所述第二顺序数据组是否出错比特位,从而判断第一顺序数据组或校验位是否有错误;步骤S4:根据判断结果,按照所述编/解码的校验协议对所述第一顺序数据组的数据信息进行错误比特位定位和纠错。
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