[发明专利]应用崩溃测试方法、装置、电子设备及存储介质有效
申请号: | 201811624536.5 | 申请日: | 2018-12-28 |
公开(公告)号: | CN109669875B | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 于尚洋;李木柯;张蒙;刘冰 | 申请(专利权)人: | 北京金山安全软件有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 宋合成 |
地址: | 100085 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请提出一种应用崩溃测试方法、装置、电子设备及存储介质,属于计算机应用技术领域。其中,该方法包括:从目标应用的用户群中抽取测试用户;向测试用户推送目标应用的待测试数据,以使测试用户利用待测试数据对目标应用进行修改;获取已修改目标应用的各测试用户返回的各目标应用运行状态信息;根据各目标应用运行状态信息中包括崩溃信息的数量及测试用户的数量,确定目标应用当前的崩溃概率。由此,通过这种应用崩溃测试方法,在目标应用当前的崩溃概率符合发布条件时,发布目标应用,从而降低了目标应用发布之后发生崩溃的概率,改善了用户体验。 | ||
搜索关键词: | 应用 崩溃 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
1.一种应用崩溃测试方法,其特征在于,包括:从目标应用的用户群中抽取测试用户;向所述测试用户推送所述目标应用的待测试数据,以使所述测试用户利用所述待测试数据对所述目标应用进行更新;获取已更新所述目标应用的各测试用户返回的各目标应用运行状态信息;根据所述各目标应用运行状态信息中包括崩溃信息的数量及所述测试用户的数量,确定所述目标应用当前的崩溃概率。
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