[发明专利]GaN基LED白光垂直结构芯片及其制备方法在审
申请号: | 201811626958.6 | 申请日: | 2018-12-28 |
公开(公告)号: | CN109713089A | 公开(公告)日: | 2019-05-03 |
发明(设计)人: | 童玲 | 申请(专利权)人: | 映瑞光电科技(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/22;H01L33/46 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 刘翔 |
地址: | 201306 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种GaN基LED白光垂直结构芯片及其制备方法,所述芯片包括:依次堆叠的未掺杂层、N‑GaN层、量子阱层和P‑GaN层;凹槽,凹槽贯穿P‑GaN层和量子阱层且暴露N‑GaN层;反射层,形成于P‑GaN层上;第一绝缘层,第一绝缘层形成于反射层上且覆盖凹槽的侧壁;保护层,形成于反射层上;第二绝缘层,形成于保护层和第一绝缘层上;键合衬底以及位于键合衬底上的键合层,键合层面向第二绝缘层,且填充凹槽以与N‑GaN层电性连接;钝化层,覆盖P‑GaN层、量子阱层、N‑GaN层和未掺杂层的侧壁以及第一绝缘层上;P电极,形成于P‑GaN层、量子阱层、N‑GaN层和未掺杂层的一侧,并通过保护层与P‑GaN层电性连接。本发明提高了白光的光提取效率。 | ||
搜索关键词: | 绝缘层 量子阱层 未掺杂层 保护层 反射层 白光 垂直结构芯片 电性连接 键合层 侧壁 制备 光提取效率 绝缘层形成 钝化层 堆叠 覆盖 填充 芯片 暴露 贯穿 | ||
【主权项】:
1.一种GaN基LED白光垂直结构芯片的制备方法,其特征在于,包括:提供一生长衬底,在所述生长衬底上依次形成有未掺杂层、N‑GaN层、量子阱层和P‑GaN层;对所述P‑GaN层和量子阱层进行刻蚀以得到凹槽,所述凹槽暴露出所述N‑GaN层;在所述P‑GaN层上形成反射层,在所述反射层上形成第一绝缘层,所述第一绝缘层覆盖所述凹槽的侧壁;在所述反射层上形成保护层;在所述保护层和第一绝缘层的表面上形成第二绝缘层,对所述凹槽底部的所述第一绝缘层和第二绝缘层进行刻蚀,暴露出所述N‑GaN层;在所述第二绝缘层上形成键合层,所述键合层填充所述凹槽,并与暴露的N‑GaN层电连接;在所述键合层上键合一键合衬底;去除所述生长衬底;对所述未掺杂层、N‑GaN层、量子阱层和P‑GaN层进行刻蚀,以得到暴露出所述第一绝缘层的N‑MESA台面;在所述键合衬底的全局表面上形成钝化层,所述钝化层覆盖所述第一绝缘层、未掺杂层、N‑GaN层、量子阱层和P‑GaN层;定义P电极形成区,所述P电极形成区位于所述P‑GaN层、量子阱层、N‑GaN层和未掺杂层的一侧,对所述P电极形成区的钝化层和第一绝缘层进行刻蚀,暴露出所述保护层,在所述保护层上形成P电极;以及对所述未掺杂层表面的所述钝化层进行刻蚀,暴露出所述未掺杂层。
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